芯片测试方法及其装置
实质审查的生效
摘要
本申请提供了一种存储器芯片的测试方法，其中被测试的存储器芯片具有对应数据通道的数据输入/输出端口和芯片使能端口，测试方法包括：从数据输入/输出端口接收来自测试仪的模式编码信号，模式编码信号包括用于控制芯片使能端口的第一编码信息；以及在测试的过程中基于第一编码信息控制芯片使能端口。本申请的测试方法通过减少单个存储器芯片占用探针的数量来提高测试仪的测试效率，在一定程度上提高了测试仪并行测试芯片的能力，减少了芯片测试的时间，提高了测试效率，降低了生产成本。同时，使用更少的探针进行芯片测试可在一定程度上减少探针之间的信号串扰，提高测试质量。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试方法及其装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114360629A
申请号 ：
CN202111632356.3
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
魏德波张黄鹏宋大植
申请人 ：
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 ：
北京英思普睿知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘莹
优先权 ：
CN202111632356.3
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56 G11C29/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20211229
申请日 : 20211229
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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