多通道射频芯片测试装置以及测试方法
公开
摘要
本发明提供一种多通道射频芯片测试装置以及测试方法，该测试装置的信号输出单元、信号采集单元分别与信号处理单元、多通道射频芯片连接；信号处理单元通过多通道射频芯片的测试信息获取测试项目，根据测试项目排序控制信号输出单元向多通道射频芯片输出多路测试信号，接收信号采集单元采集的多通道射频芯片的输出信号，根据输出信号获取多通道射频芯片的并行测试结果，并在测试完成后记录所述并行测试结果并生成测试报告。本发明能够同时对多个通道进行并行测试，缩减了测试时间，测试效率高，并且不需要额外设置切换开关，简化了布线，降低了测试成本。
基本信息
专利标题 ：
多通道射频芯片测试装置以及测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114355152A
申请号 ：
CN202111404296.X
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-11-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李健均王雪彭恒杨昆明王日炎
申请人 ：
广州润芯信息技术有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市黄埔区科学城南翔二路23号B座6楼
代理机构 ：
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭昊辰
优先权 ：
CN202111404296.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01S19/23
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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