一种射频芯片测试系统
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摘要
本实用新型提供一种射频芯片测试系统，包括控制设备、射频功率测试仪和自动分选机，所述控制设备分别电连接射频功率测试仪和自动分选机，所述自动分选机包括芯片放置台和多个芯片取放头，所述芯片放置台上设有多个芯片放置位，各个芯片取放头一一对应各个芯片放置位。由于自动分选机设有多个芯片取放头，且芯片放置台上设有多个芯片放置位，控制设备可同时对多个射频芯片进行测试，因此射频芯片测试系统效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种射频芯片测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921240367.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-31
授权号 ：
CN210647355U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
李茂谢凯谢晓昆张亦锋辜诗涛
申请人 ：
广东利扬芯片测试股份有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市万江区莫屋社区莫屋新村工业区
代理机构 ：
东莞市华南专利商标事务所有限公司
代理人 ：
刘克宽
优先权 ：
CN201921240367.5
主分类号 ：
B07C5/344
IPC分类号 ：
B07C5/344 B07C5/02 B07C5/36
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
B07C5/344
根据电或电磁性质
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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