本实用新型公开了一种射频芯片测试装置，包括载台，所述载台的上表面固定连接有测试箱体，所述测试箱体的正面固定连接有控制面板，所述测试箱体的内顶壁固定连接有测试仪本体，所述测试箱体的内部设有滑动板，所述滑动板的底面开设有两个滑槽，两个所述滑槽的内部均滑动连接有限位块，两个所述限位块的底面均与测试箱体的内底壁固定连接，所述滑动板的上表面开设有芯片载板放置槽。该频芯片测试装置，通过在测试仪本体的两侧设置散热扇，散热扇可以对测试箱体的内部进行散热，可以避免测试仪本体长时间工作而过热受损，起到对检测仪本体的保护作用，而且散热扇可以将附着在测试箱体内部的灰尘吹起，避免灰尘在测试箱体的内部堆积。