RFID芯片剪切力测试仪
授权
摘要
本实用新型涉及RFID芯片剪切力测试仪，包括安装台，安装台的上表面设置有工件放置工位，位于工件放置工位两相对侧分别设置有显微镜和推力测试仪；工件放置工位上设置有左定位块、右定位块，以及间距调节组件；右定位块与工件接触位置设置有缓冲胶块；检测时，将工件放置在安装台上的左定位块和右定位块之间，然后通过间距调节组件来调节左定位块和右定位块的间距对工件进行夹持，夹持完成后，左定位块对工件进行定位，右定位块上的缓冲胶块与工件接触进行缓冲保护，然后推力检测仪沿朝向左定位块的方向来推工件上的芯片进行测试，工件不会出现移位情况，整体可靠性好，稳定性高，适用工件尺寸范围较大，且不易损伤工件。
基本信息
专利标题 ：
RFID芯片剪切力测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020285770.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-10
授权号 ：
CN211652392U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
程明明王伟良
申请人 ：
巨心物联网实验室（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道铁岗社区桃花源科技创新园孵化大楼B栋6层609
代理机构 ：
深圳市科冠知识产权代理有限公司
代理人 ：
王海骏
优先权 ：
CN202020285770.6
主分类号 ：
G01N3/24
IPC分类号 ：
G01N3/24 G01N3/08 G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/24
施加稳定的剪切力
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
