一种芯片推拉力测试仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片推拉力测试仪，涉及芯片生产测试技术领域，解决了现有的芯片推拉力测试仪存在的进刀深度不易精准控制，从而导致测试结果不准确的问题，本实用新型包括底面为水平面的移动刀座，移动刀座下方设置有固定平台，移动刀座下段内部开设有固定腔，固定腔中设置有可水平移动的驱动块，固定腔底部中心开设有竖直的连通移动刀座底面外部的推刀槽，推刀槽中设置有推刀，推刀顶部与驱动块侧面均为斜面并相互配合，驱动块的斜面上开设有燕尾槽，推刀的斜面上设置有与燕尾槽配合的燕尾状的卡块。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片推拉力测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921031931.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-04
授权号 ：
CN210052716U
授权日 ：
2020-02-11
发明人 ：
韩力
申请人 ：
成都汉芯国科集成技术有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区(西区)合作路89号
代理机构 ：
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 ：
马林中
优先权 ：
CN201921031931.2
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66 H05K13/08 G01N3/02 G01N3/08
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2020-02-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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