一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置，属于推拉力测试仪技术领域，解决了芯片推拉力测试仪在工作时会因灰尘颗粒的影响而导致测试精度不足、测试数据不准确的问题，本实用新型包括底座，所述底座上方安装有工作平台，所述工作平台上连接有支撑台，所述支撑台连接有测试头，所述底座的表面和底座与工作台之间的连接处均开设有多个通风栅口，底座内安装有清洁装置，所述清洁装置包括吸尘盘和抽风机，吸尘盘与抽风机连通，所述抽风机的进风口安装有滤尘网，抽风机的出风口与底座外连通。本实用新型有效提高了推拉力测试仪测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921175413.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-25
授权号 ：
CN210450221U
授权日 ：
2020-05-05
发明人 ：
刘召满
申请人 ：
成都汉芯国科集成技术有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区(西区)合作路89号
代理机构 ：
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵宇
优先权 ：
CN201921175413.8
主分类号 ：
B08B15/00
IPC分类号 ：
B08B15/00 B01D46/30 B01D46/42 B01D46/48 F16F15/04
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B08
清洁
B08B
一般清洁；一般污垢的防除
B08B15/00
防止污物或烟尘从产生处逸出；从产生处收集或清除污物或烟尘
法律状态
2020-05-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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