芯片拉力测试治具
授权
摘要
本实用新型提供一种芯片拉力测试治具，包括连接主体和用于与芯片模块卡合的卡勾，卡勾包括安装板块和多个卡勾本体，各卡勾本体与安装板块相连，安装板块可转动地与连接主体相连。本实用新型的芯片拉力测试治具能够实现对芯片模块的拉力测试，并且芯片拉力测试治具操作简易、使用便捷，使整个测试过程简易、便捷、高效，可节约工时、人力。
基本信息
专利标题 ：
芯片拉力测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021316819.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-07
授权号 ：
CN212780449U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
冯加林刘迎春王娟
申请人 ：
昆山丘钛生物识别科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市高新区台虹路3号一号厂房三楼
代理机构 ：
上海波拓知识产权代理有限公司
代理人 ：
蔡光仟
优先权 ：
CN202021316819.6
主分类号 ：
G01N19/04
IPC分类号 ：
G01N19/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N19/00
用机械方法测试材料
G01N19/04
测量材料之间的附着力，例如密封带的，涂层的
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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