本实用新型公开了一种芯片测试治具，属于测试治具领域，一种芯片测试治具，包括检测治具主体、检测电路板、针脚观测端、接触通电板，所述检测治具主体的定侧面设置有用于检测芯片是否能够正常运作的检测电路板；所述检测电路板的末端侧面设置有用于连接检测元件电路与芯片电路的接触通电板，所述接触通电板的上方设置有用于固定芯片位置的芯片固端，所述芯片固端的侧面设置有用于观察芯片针脚的针脚观测端，所述接触通电板的上表面螺纹连接有外护壳，所述接触通电板的一端设置有开关，本新型实用的特征为，可以实现部分结构便于拆卸，以方便排除故障，可适应不同厚度和不同针脚长短的芯片，保持芯片针脚与测试元件连接的稳定性。