本实用新型公开种IC芯片测试治具，包括芯片，所述芯片的底部设有吸附机构，所述吸附机构包括底座、吸盘和竖板，所述底座设于芯片的底部，所述底座的底部四角均安装有吸盘，所述底座的顶部固接有竖板。该IC芯片测试治具通过吸盘、底座和竖板之间的配合，使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率，该IC芯片测试治具通过横板、圆板和V型块之间的配合，使得芯片可进行多种角度的转动调节，方便测试者对芯片进行检测。