本实用新型涉及IC芯片技术领域，且公开了一种IC芯片测试治具，包括底板，所述底板的顶端固定安装有作用箱，所述作用箱的上下两侧壁转动连接有第一转杆，所述作用箱的上壁转动连接有第二转杆，所述第一转杆位于第二转杆内部，本新型方案能够通过设置第一转杆、第二转杆、第一锥形齿轮、第二锥形齿轮、作用板、第一电机、第二电机、第三锥形齿轮、第四锥形齿轮、第五锥形齿轮、作用匣、第三转杆、第六锥形齿轮、连接杆与支撑板等装置可以调节放置台的角度，使放置在放置台表面的IC芯片处于平行于水平线，通过设置调节装置，便于调节芯片检测治具的位置，防止放置台调节过后与芯片检测治具的位置产生差异，避免造成检测不准确。