一种高效的芯片测试治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种高效的芯片测试治具,包括支撑腿,支撑腿的顶部安装有安装架,安装架上安装有辊轮,辊轮上安装有传送带,传送带上安装有固定装置,安装架的顶部安装有支撑柱,支撑柱的顶部安装有螺纹杆,螺纹杆上安装有两个驱动装置,固定台上设置有芯片槽可以方便芯片的安装更换,测试板底部设置的卡槽可以将芯片卡住稳定不晃动,使测试数据更加准确,滑座设置在驱动架之间且对称安装在驱动架上可以使驱动装置在移动时不会晃动,啮合的主动齿轮各从动齿轮带动驱动架在螺纹杆上移动,测试设备可以通过第一电动推杆调节升降高度方便测试,吸盘方便将芯片吸出方便将芯片取出更换。

基本信息
专利标题 :
一种高效的芯片测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123026920.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-02
授权号 :
CN216449689U
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
林高云蒙桂军
申请人 :
深圳市芯都半导体有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区龙岗街道龙西社区楼吓牌坊南面工业园厂房6栋1层
代理机构 :
广东奥益专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
田树杰
优先权 :
CN202123026920.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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