本实用新型公开了一种芯片测试治具，包括治具台和支撑脚，所述治具台的下方左右两侧前后两端均固接有支撑脚，所述横板的内部下方和治具台的内部中心安装有调节组件，所述电路板的左侧通过导线与外界显示屏相连通，所述电路板的上方安装有测试组件。该芯片测试治具，通过横板、螺杆、滑块、套筒、第二销轴、指针、刻度盘和芯片之间的配合，解决了在改变倾斜角度进行测试时无法记录下准确的角度问题，通过横板、第一销轴、芯片、竖杆、螺杆、螺钉、橡胶垫、指针和刻度盘之间的配合，使指针处于刻度盘刻度缝隙之间时可拧松螺钉调整竖杆以此将指针调整至刻度盘对应刻度角度，解决了角度调整观察不准确时无法进行微调的问题。