本实用新型公开了一种芯片测试治具导气槽，包括风扇，所述风扇固定在芯片测试治具手测盖的上端，所述芯片测试治具手测盖的中部设有导气口，且芯片测试治具手测盖底部还设有散热块固定座，所述散热块固定座上端中部的散热块插入至导气口内，所述散热块上设有若干组通风道，所述散热块固定座的上端左右两侧设有导气孔，所述芯片测试治具底座上端的凹槽内设有芯片，所述凹槽的左右两侧设有进气槽，所述凹槽的前后两侧设有排气槽。本实用新型可将部分风量引流到芯片测试治具底座，从而达到给芯片及治具降温的作用，避免了在测试过程中再发生芯片底部的芯片锡球的熔球问题，减少芯片损伤，成本损失，更大大保证了客户的产品交付时间。