本实用新型公开了一种芯片功能测试治具，包括加工台，加工台的前表面通过合页铰接有密封盖，加工台上表面的一侧固定连接有放置盒，且加工台上表面的另一侧固定连接有固定架，所述固定架的顶端固定连接有与放置盒连接的丝杆驱动设备，且丝杆驱动设备的外侧螺接有两组驱动架，两组所述驱动架的下表面均固定连接有气缸，本实用新型涉及芯片测试技术领域。该芯片功能测试治具通过放置架可以同时在治具上放置多个芯片，从而可以减少工作人员拿取芯片的时间，通过两组负压风机，可以将芯片通过负压的方式固定在测试部位或者将其从中取出，相较于现有技术，本装置中的芯片放置区域通过分隔网和分隔框进行分隔，方便进行拆卸和清理。