射频芯片控制板和射频芯片测试系统
授权
摘要

本实用新型实施例提供一种射频芯片控制板和射频芯片测试系统,涉及测试技术领域。本实用新型实施例提供的射频芯片控制板和射频芯片测试系统,包括控制芯片、双排插座以及控制板本体,其中,双排插座以及控制芯片设置于控制板本体上,双排插座集成有射频芯片的管脚以及控制芯片的管脚,控制芯片通过双排插座与射频芯片连接,以对射频芯片进行测试。如此设置,通过射频芯片控制板即可对射频芯片进行测试,过程简单,提高了射频芯片的测试速度和效率。

基本信息
专利标题 :
射频芯片控制板和射频芯片测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022020289.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-15
授权号 :
CN213068951U
授权日 :
2021-04-27
发明人 :
刘柯彤谷滨陈建波罗烜郭凡玉
申请人 :
成都天锐星通科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区中国(四川)自由贸易试验区府城大道西段399号10栋14层1403号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张欣欣
优先权 :
CN202022020289.7
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-04-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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