一种射频芯片测试设备

授权

摘要

本实用新型公开了一种射频芯片测试设备，包括限位装置，所述限位装置用于对待测试芯片进行限位；高度位置检测装置，所述高度位置检测装置用于检测待测试芯片的高度误差值；水平位置检测装置，所述水平位置检测装置用于检测待测试芯片的水平位置；微针座，所述微针座上设置有用于连接待测试芯片的微针；第一运动机构，所述微针座设置在第一运动机构上；测试系统，所述测试系统与微针连接，所述测试系统用于通过微针对待测试芯片进行测试。具有采用机械定位及下针，定位精度高，下针准确度更高，对测试人员要求低，测试效率更高的优点。

基本信息

专利标题：

一种射频芯片测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021758954.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-20

授权号：

CN212321785U

授权日：

2021-01-08

发明人：

窦国珍罗伟

申请人：

成都云绎智创科技有限公司

申请人地址：

四川省成都市天府新区正兴街道顺圣路172号

代理机构：

成都环泰专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

李斌

优先权：

CN202021758954.6

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04 G01B11/00 G01B11/06