内存电性测试器
专利权的终止
摘要
一种内存电性测试器，用以电性连接内存多测试接脚的任意二者，并供同时短路二个该测试接脚，该电性测试器包括二个电性接头、以及分别电性连接各该电性接头的电路开关，该电路开关并供切换短路与断路的其中一者，由此同时短路任二个接脚以降低单位信号所造成的干扰，进而提高多位元信号电性测试的准确性。
基本信息
专利标题 ：
内存电性测试器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720174917.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-09-05
授权号 ：
CN201163539Y
授权日 ：
2008-12-10
发明人 ：
章熙朗陈志丰
申请人 ：
英业达股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台北市
代理机构 ：
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 ：
程伟
优先权 ：
CN200720174917.9
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2016-10-26 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101684346580
IPC(主分类) : G11C 29/00
专利号 : ZL2007201749179
申请日 : 20070905
授权公告日 : 20081210
终止日期 : 20150905
号牌文件序号 : 101684346580
IPC(主分类) : G11C 29/00
专利号 : ZL2007201749179
申请日 : 20070905
授权公告日 : 20081210
终止日期 : 20150905
2008-12-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN201163539Y.PDF
PDF下载
