一种电性测试键
避免重复授权放弃专利权
摘要
本实用新型涉及一种用于检测金属线与绝缘层应力异常的电性测试键。该电性测试键的结构为：在电性连接垫的上下两侧各放置两条基本平行的金属线，其中一侧的两条金属线为裸露的平行线，另一侧的两条平行的金属线的两侧各有一条虚设的金属线，以保护中间的两条金属线不会被异常所影响。采用本实用新型的结构，可以及时发现金属线与绝缘层之间的应力异常，从而提高晶片的合格率。
基本信息
专利标题 ：
一种电性测试键
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720310843.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-12-20
授权号 ：
CN201138661Y
授权日 ：
2008-10-22
发明人 ：
孙锦华王政烈
申请人 ：
和舰科技(苏州)有限公司
申请人地址 ：
215025江苏省苏州市苏州工业园区星华街333号
代理机构 ：
北京连和连知识产权代理有限公司
代理人 ：
屈小春
优先权 ：
CN200720310843.7
主分类号 ：
H01L23/544
IPC分类号 ：
H01L23/544
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/544
加到半导体器件上的标志，例如注册商标、测试图案
法律状态
2011-01-12 ：
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101060328653
IPC(主分类) : H01L 23/544
专利号 : ZL2007203108437
申请日 : 20071220
授权公告日 : 20081022
放弃生效日 : 20071220
号牌文件序号 : 101060328653
IPC(主分类) : H01L 23/544
专利号 : ZL2007203108437
申请日 : 20071220
授权公告日 : 20081022
放弃生效日 : 20071220
2008-10-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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