本发明是一种整合不同电性测试的探针卡，用以测试待测物的电性，探针卡包括有多个探针以及探针座。多个探针包括至少一阻抗匹配探针以及多个悬臂探针。探针座包括有电路基板以及固定基板。电路基板具有第一穿孔。固定基板具有第二穿孔。固定基板设置在电路基板上，第二穿孔对应第一穿孔，且第一穿孔的孔径大于第二穿孔的孔径，至少一阻抗匹配探针穿过第一穿孔设置于固定基板上，每一阻抗匹配探针的探针部穿过第二穿孔，每一悬臂探针的悬臂段的一端与电路基板电性连接，每一悬臂探针的悬臂段的另一端连接对应每一悬臂探针的针尖段，每一悬臂探针的针尖段设置在第二穿孔的待测物侧。