测试探针

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摘要

一种测试探针，包含沿轴线延伸的本体，及连接于所述本体的接触单元。所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件，每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点，及至少一条通过所述尖端点的棱线。定义通过所述尖端点且垂直所述轴线的辅助面，所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度，故所述尖端点至少有一侧与所述对象物接触时，相较于以较为尖锐的角度接触所述对象物而言，所述尖端点即便被磨耗，也会再形成其他类似型态的等效接触位置，因此能在确保接触稳定性之下延长测试探针的使用寿命。

基本信息

专利标题：

测试探针

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020309746.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-13

授权号：

CN211785695U

授权日：

2020-10-27

发明人：

赖琦郎

申请人：

颖崴科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾高雄市

代理机构：

北京泰吉知识产权代理有限公司

代理人：

张雅军

优先权：

CN202020309746.1

主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R1/073