测试探针以及使用该测试探针的测试插座
授权
摘要
本发明公开一种测试探针，用于包括具有弯曲表面的桶状接触端子的物件。所述测试探针包括：第一接触构件，被配置成包括接触部分以及延伸部分，所述接触部分具有一对排列成“V”形且分别在彼此间隔开的点处与所述待测试接触端子接触的接触表面，且所述延伸部分自所述接触部分沿纵向方向向后一体延伸。因此，所述测试探针能有效地与例如用于智能电话的超小型照相机模块的待测试物件的部分弯曲桶形状接触端子接触。
基本信息
专利标题 ：
测试探针以及使用该测试探针的测试插座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110249229A
申请号 ：
CN201880009787.4
公开（公告）日 ：
2019-09-17
申请日 ：
2018-01-11
授权号 ：
CN110249229B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
白承夏
申请人 ：
李诺工业股份有限公司
申请人地址 ：
韩国釜山市江西区美音产团路105弄10号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
马爽
优先权 ：
CN201880009787.4
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2019-10-15 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/067
申请日 : 20180111
申请日 : 20180111
2019-09-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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