探针板卡、探针测试系统以及探针测试方法
实质审查的生效
摘要
一种探针板卡、探针测试系统以及探针测试方法,所述探针板卡包括:电路板,呈平板状;多个针板,分别通过多个可伸缩柱体连接在所述电路板的一侧,所述多个针板中的每一个远离所述电路板的一侧设置有至少一根探针,所述探针沿基本上垂直于所述电路板的方向延伸;以及微控制器,设置在电路板上,配置为控制所述多个可伸缩柱体在垂直于所述电路板的方向上伸缩,使得所述多个针板在垂直于所述电路板的方向上可移动。
基本信息
专利标题 :
探针板卡、探针测试系统以及探针测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384287A
申请号 :
CN202210049198.7
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-01-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李文敬余琨吴一徐倩云
申请人 :
上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区郭守敬路351号2号楼6楼
代理机构 :
北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
方丁一
优先权 :
CN202210049198.7
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/073
申请日 : 20220117
申请日 : 20220117
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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