一种双通道高精度补偿探针测试板卡
授权
摘要

本实用新型实施例公开了一种双通道高精度补偿探针测试板卡,具体涉及测试板卡领域,包括测试版固定圈,所述测试版固定圈的底端固定安装有测试多层线路板,所述测试多层线路板的底端固定安装有测试通道转接板,所述测试通道转接板的底端设置有测试探针下导向板,所述测试探针下导向板的底端设置有测试探针上导向板。本实用新型通过测试机电源可以一个通道直达芯片表面,另外一个通道进行芯片表面电压反馈来检测芯片电源是否达到标准值,并进行反馈智能补偿,提高芯片测试精度,双通道数据输入输出特点优势是利用KELVIN检测方法消除布线和探针对锡球产生的接触电阻,提高芯片测试精度。

基本信息
专利标题 :
一种双通道高精度补偿探针测试板卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021224083.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-29
授权号 :
CN212622709U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
卞学礼徐立华刘通
申请人 :
沈阳圣仁电子科技有限公司
申请人地址 :
辽宁省沈阳市浑南区飞云路20-2号(501)
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021224083.X
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  G01R31/40  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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