一种集成双通道开关测试座
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成双通道开关测试座，包括：上胶芯，所述上胶芯设有第一配合通孔和第二配合通孔；金属外壳；第一接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第一接触元件设有第一接触部，所述第一接触部突伸出所述上胶芯的外表面；第二接触元件，与所述上胶芯通过嵌件成型固定在一起，所述第二接触元件设有第二接触部，所述第二接触部突伸出所述上胶芯的外表面；下胶芯；第一活动元件，设置于所述下胶芯，第一活动元件设有第一弹性部，所述第一弹性部与所述第一接触部接触。与现有技术相比，减少占用空间。
基本信息
专利标题 ：
一种集成双通道开关测试座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020939819.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-29
授权号 ：
CN212845479U
授权日 ：
2021-03-30
发明人 ：
钱良吕银涛黄颗
申请人 ：
电连技术股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明区公明街道办西田社区锦绣工业园
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020939819.5
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-03-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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