探针测试装置
授权
摘要

本实用新型提供一种探针测试装置,包括探针模块以及电极部。探针模块包括本体、滑动部以及抵靠部,其中本体包括第一滑轨;滑动部滑设于第一滑轨上且包括滑动台座以及探针部,滑动台座包括第二滑轨,探针部连接于滑动台座,且探针部上配置有至少一个探针;抵靠部包括滑动件以及接触件,滑动件滑设于第二滑轨上,接触件连接于滑动件,接触件上形成有至少一个贯孔,且探针适于穿设于贯孔。电极部包括支撑部以及弹性电极,其中支撑部可在探针的排列方向上滑动;而弹性电极连接于支撑部且高度对应于探针。

基本信息
专利标题 :
探针测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021711347.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-17
授权号 :
CN212845534U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
郭永聪
申请人 :
上利新科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新北市
代理机构 :
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 :
南霆
优先权 :
CN202021711347.4
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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