快拆式探针测试装置
专利权的终止
摘要

一种快拆式探针测试装置,包含一个测试组合体,及一个第一快拆单元;该测试组合体包括一个本体,及多个间隔设置地容置于该本体中的探针组;该第一快拆单元包括一片能够分离地与该测试组合体的本体组合的第一盖板,及多个设置于该第一盖板的第一替换件,所述第一替换件分别与所述探针组能够分离地连接在一起,借由该第一盖板能够与该本体分离,使设置于该第一盖板的所述第一替换件能够一并自相对应连接的所述探针组上分离,进而更换另一批第一替换件,不只克服更换所述探针组的不方便性,更提高维修汰换的作业效率。

基本信息
专利标题 :
快拆式探针测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820210018.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-23
授权号 :
CN201285424Y
授权日 :
2009-08-05
发明人 :
吴俊杰
申请人 :
巧橡科技有限公司
申请人地址 :
中国台湾高雄市
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
李树明
优先权 :
CN200820210018.4
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/073  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2018-11-16 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20081023
授权公告日 : 20090805
2009-08-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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