探针及测试装置

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摘要

本实用新型公开了一种探针及测试装置，用以测试一芯片，其中该探针设置于一测试座的一安装孔中，该探针呈薄片状并以导电材质制成，且包含一基部、一缓冲部及一接触部。该基部是位于该安装孔内且卡合于该测试座上，该缓冲部是位于该安装孔内且由该基部一体向外呈螺旋状延伸，而该接触部是位于该安装孔内并由该缓冲部一体延伸而与该基部互相间隔，且该接触部末端突出于该安装孔外而伸置于测试空间内。该探针一体成型，可以减少阻抗与噪声，并使包含该探针的测试装置降低制造成本并提高组装便利性。

基本信息

专利标题：

探针及测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921542217.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-17

授权号：

CN211263556U

授权日：

2020-08-14

发明人：

吴俊杰

申请人：

吴俊杰

申请人地址：

中国台湾高雄市大社区和平路一段316号

代理机构：

北京汇泽知识产权代理有限公司

代理人：

周鹤

优先权：

CN201921542217.X

主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R1/073