同轴测试探针模组及其测试装置
授权
摘要
一种同轴测试探针模组及其测试装置,同轴测试探针模组包括金属空心基座、探针、连接部以及测试部。探针穿设于金属空心基座中,各探针分别具有连接端及测试端,各探针的测试端穿设于金属件,使探针的测试端的末端凸出于金属件。各探针的连接端分别连接至一连接部。测试部具有相对设置的第一表面及第二表面,探针的测试端自第二表面穿入测试部,直至探针的金属件位于测试部中,且探针的测试端的末端露出于第一表面。本实用新型通过同轴的结构,使探针有效地达到阻抗匹配,并取代板对板连接器公母头对扣的测试方式,毋须承担连接器压伤与零件故障的风险。
基本信息
专利标题 :
同轴测试探针模组及其测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022157104.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-27
授权号 :
CN213689716U
授权日 :
2021-07-13
发明人 :
李定宗
申请人 :
嘉联益电子(昆山)有限公司;嘉联益科技(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山开发区金沙江南路18号
代理机构 :
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 :
王玉双
优先权 :
CN202022157104.7
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2021-07-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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