测试探针清洁方法的探针固定方法
实质审查的生效
摘要

本发明测试探针清洁方法的探针固定方法涉及半导体技术领域;具体为:调节待清洁的测试探针相对应的基座本体上的第一调节螺栓和第二调节螺栓,同时顺时针旋转第一调节螺栓和逆时针旋转第二调节螺栓,并旋转相同圈数,使第一丝杠螺母沿着第一调节螺栓的轴向方向拉动第一限位夹片向基座本体外移动一定距离,同时使第二丝杠螺母沿着第二调节螺栓的轴向方向拉动第二限位夹片向基座本体外移动与第一限位夹片等量的距离,第一限位夹片和第二限位夹片上相对应的圆形通孔的侧壁发生相对位移,并与设置在对应的圆形通孔内的测试探针的外壁相抵靠,以对测试探针进行固定;本发明应用于测试探针清洁方法,能够有效代替人工清洁,保证了清洁质量和测试效率。

基本信息
专利标题 :
测试探针清洁方法的探针固定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114472252A
申请号 :
CN202210126254.2
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2020-11-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
贺涛金永斌丁宁朱伟
申请人 :
法特迪精密科技(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号5#101、102、201、202
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210126254.2
主分类号 :
B08B1/00
IPC分类号 :
B08B1/00  B08B13/00  G01R1/067  G01R1/073  
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B08
清洁
B08B
一般清洁;一般污垢的防除
B08B1/00
利用工具,刷子或类似工具的清洁方法
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B08B 1/00
申请日 : 20201128
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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