本发明属于半导体制备技术领域，尤其是一种晶圆测试探针台及其测试方法，针对现在的检测方式采时逐一晶圆片检测，也就是说一个晶圆片检测需要进行放置晶圆片，然后检测，最后取下检测完毕的晶圆片，重复以上动作，此种检测方式的取放浪费了大量时间问题，现提出以下方案，包括工作台，所述工作台底部外壁四角位置均固定连接有支脚，所述工作台顶部外壁固定连接有电控箱。本发明中，通过设置装载管可以对晶圆片进行装载，通过设置驱动机构带动转动管转动，从而带动装载管转动，从而利用第一感应器和第二感应器的配合作用下，保证了装载管依次经过进料机构、检测机构和集料机构，实现了转动式自动上料、检测和下料的目的，保证了测试效率。