测试讯号隔离探针座和电路晶片测试组件
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摘要
本实用新型涉及一种测试讯号隔离探针座和电路晶片测试组件，属于电路晶片测试的技术领域，用于解决现有技术中电路晶片测试装置测试探针中信号相互干扰的问题，该测试讯号隔离探针座包括用于连接电路晶片和测试机的若干半导体IC测试探针、设置有若干供半导体IC测试探针一一对应插入插孔的插座壳以及若干一一对应于所述半导体IC测试探针以电磁屏蔽对应半导体IC测试探针产生电磁讯号的金属管。在使用该探针座进行电路晶片测试时，金属管能够屏蔽半导体IC测试探针由于流过通讯信号产生的电磁讯号，即半导体IC测试探针之间不会相互干扰，从而提高了测试过程的准确性和稳定性。该电路晶片测试组件包括该测试讯号隔离探针座。
基本信息
专利标题 ：
测试讯号隔离探针座和电路晶片测试组件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021305503.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-04
授权号 ：
CN212872763U
授权日 ：
2021-04-02
发明人 ：
洪敬文
申请人 ：
卓越（阳信）科技有限公司
申请人地址 ：
山东省滨州市阳信县经济开发区工业二路377号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021305503.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/18 G01R1/073
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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