本实用新型公开了一种半导体晶片探针测试设备，包括底座，所述底座上端安装有升降结构,所述底座上端安装有夹紧检测结构；其中，升降结构包含有：动力室、液压泵、液压杆、辅助滑道、第一滑块、升降台、电动滑道、第二滑块、电动推杆以及探针，本实用新型涉及半导体检测技术领域，本案的有益效果为：解决了现有设备中由于产品的待测试点距离测试设备的高度不一，所以要准备不同长度的探针以满足不同的测试要求，并且放置板的高度固定，不能根据需求进行调整，适应能力较差；而且在测试过程中需要进行固定，人工固定比较麻烦，会带来较大的不便，而且过程比较繁琐，具有不利于长期的高效的进行使用等问题。