一种半导体探针测试治具

授权

摘要

本实用新型涉及半导体生产测试领域的一种半导体探针测试治具，下固定座上设置有固定台，上固定座下面设置有伸出气缸组件，伸出气缸组件下面配合设置有探针测试组件，探针测试组件设置有若干组，探针测试组件排布设置有若干组，固定台上设置有限位组件，探针测试组件对应限位组件设置；探针测试组件包括设置在限位组件左侧的左侧探针限位部，设置在限位组件右侧的右侧探针限位部，设置在限位组件上面的上侧探针限位部；该实用新型能够自动进行限位，不会安装出错，在工作时候的时候能够自动进行校正，同时确保中心探针具有较好的回弹力，提高测试效率，避免探针过快的损坏。

基本信息

专利标题：

一种半导体探针测试治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921655213.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-30

授权号：

CN210775605U

授权日：

2020-06-16

发明人：

向俊武周游陈小跃陈浩

申请人：

安测半导体技术（江苏）有限公司

申请人地址：

江苏省扬州市邗江区安桥路1号高新区大楼9楼

代理机构：

南京苏科专利代理有限责任公司

代理人：

陈亮

优先权：

CN201921655213.2

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04