本实用新型公开了一种半导体探针测试治具，包括探针安装盘、探针、副测试台、主测试台和测试机箱，所述测试机箱的顶部通过铰接耳架设有可角度调节的顶架，所述主测试台与探针安装盘正对设置，且主测试台设为可自转结构，所述主测试台的边侧设有六个副测试台。该实用新型设有主测试台，在主测试台的边侧设有六个副测试台，且六个副测试台上设有测试件放置副槽，在主测试台上设有测试件放置主槽，通过此种设计的测试台可以进行不同部件的放置，使其可以对元件进行分开检测，且探针安装盘的底部设有七个探针，使其可以同时对电路板进行七个区域的同时测试，且主测试台与电机输出轴连接，使其可以自动控制主测试台旋转，使其方便测试。