一种探针卡插槽测试治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种探针卡插槽测试治具,包括冶具主体,所述冶具主体的上端外表面开设有三组放置槽,所述冶具主体的两侧外表面均焊接有固定块,所述固定块的上端焊接有定位柱;所述冶具主体的前端外表面靠近一侧的位置开设有预留槽,所述冶具主体的前端外表面中间位置开设有插槽,所述插槽的内部插进有顶板,所述插槽的一侧设置有卡块,所述卡块的内部贯穿有连接轴,所述卡块通过连接轴与冶具主体活动连接;所述预留槽的内部设置有旋柱。本实用新型的有益效果是:能够让使用者更加方便的取出测试后的探针卡,同时让能够让使用者直观的了解到冶具是否水平,避免了不水平导致出现较大偏差的状况发生。

基本信息
专利标题 :
一种探针卡插槽测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921171053.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-24
授权号 :
CN210376459U
授权日 :
2020-04-21
发明人 :
张卫勇季寒飞吕晨昱钟志宏
申请人 :
苏州光和精密测试有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道前珠路1号2幢六楼618
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
吴冲般
优先权 :
CN201921171053.4
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2020-04-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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