一种测试探针用治具
授权
摘要
本实用新型提供了一种测试探针用治具，包括治具框架、压紧机构以及针板机构；所述治具框架在下部两侧的内壁各开设有一长槽插孔，每所述长槽插孔的插入端均设有一松紧机构，所述针板机构的两侧插设于所述长槽插孔内，并通过所述松紧机构将所述针板机构固定在长槽插孔内；所述治具框架在中部的两侧各设有至少一光电传感器；所述压紧机构固设于所述针板机构上，所述光电传感器通过感应所述压紧机构的位置来检测所述针板机构上探针与待测模组的接触连接。本实用新型的优点在于：实现对针板机构进行快速更换，确保不会影响产线的生产效率；能够达到全方位绝缘效果，同时也不会影响到测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种测试探针用治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921626039.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-27
授权号 ：
CN211554256U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
刘作斌赖秋凤郭金鸿叶文黄祖灼
申请人 ：
福建星云电子股份有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市马尾区快安马江大道石狮路6号1-4#楼
代理机构 ：
福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
林燕
优先权 ：
CN201921626039.9
主分类号 ：
G01R31/385
IPC分类号 ：
G01R31/385
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/385
••测量电池或蓄电池变量的装置
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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