一种探针寿命测试治具

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种探针寿命测试治具，包括底板、竖直设置于底板后侧的导柱、与导柱配合的滑套、设置在滑套上的升降板、设置于升降板正下方底板上的探针板架，升降板底部设有用于检测每个点探针压力的薄膜压力传感器，底板上设有竖直的下压气缸，下压气缸的气缸杆与升降板连接，探针板架用于放置探针板。本实用新型利用下压气缸实现压力对探针的反复下压，利用薄膜压力传感器对比不同下压次数压力传感器数值，进行比对，从而判断探针次数的使用寿命，测试效率高，测试更加精准。

基本信息

专利标题：

一种探针寿命测试治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920765185.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-27

授权号：

CN210465666U

授权日：

2020-05-05

发明人：

胡志清范振华

申请人：

昆山拓甫电子有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市昆山市千灯镇季广南路299号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201920765185.3

主分类号：

G01R35/00

IPC分类号：

G01R35/00