一种压接头探针治具及其测试系统
授权
摘要

本申请涉及一种压接头探针治具,包括治具主体和固定在所述治具主体上的线路板和若干探针,探针连接所述线路板,若干所述探针在所述治具主体上排列成两排,不同排所述探针排布呈相对的两条平行直线,同一排所述探针中任意相邻一对所述探针之间具有间隙。本实用新型的有益效果是:本实用新型压接头探针治具,结构简单,设计巧妙,采用双排探针结构,间隔设置,减少对探针尺寸的限制,保证测试精度的条件下维持探针治具安全;压接头探针治具测试系统,对原有测试系统进行了优化,采用探针治具中电阻值和压力值的关系测绘比较办法,测试出芯片品质的稳定性,外部干扰较小,测试精度较高。

基本信息
专利标题 :
一种压接头探针治具及其测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022186425.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-29
授权号 :
CN214122302U
授权日 :
2021-09-03
发明人 :
朱继田朱涛商秋锋叶坤
申请人 :
苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区郭巷街道吴淞路892号2幢
代理机构 :
苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
马刚强
优先权 :
CN202022186425.X
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2021-09-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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