本发明提供了一种半导体探针测试治具及系统，包括:底座、承载组件、固定组件、安装组件及探针本体，所述承载组件及所述固定组件设置在所述底座上，所述探针本体通过所述安装组件安装在所述固定组件上，所述探针本体位于所述承载组件上方，所述承载组件用于承载半导体芯片。本发明中，通过单个探针本体对半导体芯片进行测试，当探针本体损坏后，能够直接对损坏的探针本体更换，不需要进行排查，提高了更换效率，更换后能够快速投入使用，提高测试效率，保证了测试结果的准确性，提高了半导体芯片的产品品质。