本实用新型涉及探针台技术领域，具体是一种半导体芯片测试用的自动探针台，用于解决现有导体芯片全自动探针台的方位调节精度不够高，导致对芯片检测的准确性不够高的问题。本实用新型包括底座，所述底座上安装有观测台，所述底座顶面安装有与观测台相对应且可旋转的放物台，所述底座顶面在竖直方向安装有支撑架，所述支撑架上安装有竖直微调机构，并在竖直微调机构上安装有操作台，在操作台上设有水平微调机构，且放物台为可旋转的，所以在微调机构上的探针可以更加精准的探测到放物台上导体芯片。