半导体芯片测试插座
授权
摘要

本实用新型公开了一种半导体芯片测试插座,包括基板、母体和盖板,所述基板四边位置均匀开设有若干个第一穿孔,所述母体四边位置均固定安装设置有延伸板,所述延伸板中心位置开设有第二穿孔,所述盖板四边位置均匀开设有若干个第三穿孔,所述第一穿孔、第二穿孔与第三穿孔外侧端位置均设置有延伸槽,所述第一穿孔内部位置活动穿插设置有固定柱。本实用新型固定柱穿过第一穿孔、第二穿孔和第三穿孔,同时挤压块穿过延伸槽,移动至盖板上端位置,之后转动活动环,使得延伸槽与挤压块错位,然后转动挤压环,使得挤压环向下挤压活动环,从而挤压盖板,使得基板、母体和盖板被挤压固定,无需通过弹性片进行卡接,有效延长了装置的使用寿命。

基本信息
专利标题 :
半导体芯片测试插座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122605850.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-28
授权号 :
CN216209321U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
游晨
申请人 :
江阴市诺普得科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市江阴市人民西路532号
代理机构 :
北京市领专知识产权代理有限公司
代理人 :
陈烯贤
优先权 :
CN202122605850.2
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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