一种芯片测试插座
授权
摘要

本实用新型公开了一种芯片测试插座,包括箱体,其特征在于:所述箱体的上端面的中间位置滑动设置有升降杆,所述升降杆的一侧设置有驱动装置,所述驱动装置固定安装在箱体的上端面上,所述驱动装置的内部转动设置有第一齿轮,所述升降杆靠近驱动装置的一侧侧壁上固定设置有第一开槽,所述箱体靠近驱动装置一侧侧壁的中间位置固定设置有入口,所述箱体远离入口一侧侧壁的中间位置固定设置有出口。本实用新型公开了一种芯片测试插座,该设备操作简单,结构稳定,可以防止手汗影响测试设备的使用寿命,做到了半自动化工作,工作人员只需将芯片插入入口,检测完成后,从出口取出芯片即可,非常方便,值得推广。

基本信息
专利标题 :
一种芯片测试插座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021190780.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-23
授权号 :
CN212674969U
授权日 :
2021-03-09
发明人 :
宫亮宫明
申请人 :
张家港艾富精密机电技术有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市张家港市杨舍镇华昌路沙洲湖科创园内
代理机构 :
苏州金项专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
金星
优先权 :
CN202021190780.8
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-03-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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