本实用新型公开了一种多功能芯片测试插座，属于芯片测试插座技术领域，其包括测试插座，所述测试插座内壁的左右两侧面均开设有凹槽，且两个凹槽内均卡接有卡块，所述卡块的下表面固定连接有滑块，所述滑块滑动连接在滑槽内，所述滑槽开设在测试壳内壁的下表面，所述测试壳卡接设置在测试插座内。该多功能芯片测试插座，通过设置测试壳、拉环、测试板、活动块、滑块和第二弹簧，使得工作人员在需要将芯片取出时，只需向上拉动拉环即可，在需要安装时，只需通过活动块就可以对芯片进行固定，不仅方便了工作人员安装或取出芯片，且大大提高了检测的效率，减少了大部分繁琐的步骤，且在检测时，芯片不易出现掉落的情况。