MEMS芯片测试插座上盖及插座
授权
摘要
本实用新型提供了一种MEMS芯片测试插座上盖及插座，其中MEMS芯片测试插座上盖包括基座、活动部件、限位件和弹性组件；所述限位件固定在所述基座上并与所述基座限定了活动空间，所述活动空间限定了延伸方向；所述活动部件被设置在所述活动空间中，并且所述活动部件可在所述活动空间中沿所述延伸方向活动；所述弹性组件分别抵靠所述基座和所述活动部件，所述弹性组件提供弹性力使所述活动部件远离所述基座；所述活动部件沿所述延伸方向的厚度可调。
基本信息
专利标题 ：
MEMS芯片测试插座上盖及插座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021790863.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-20
授权号 ：
CN213364820U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
邹波王苏江
申请人 ：
深迪半导体（绍兴）有限公司
申请人地址 ：
浙江省绍兴市柯桥区柯桥经济技术开发区柯北大道487号智能创新中心5号楼
代理机构 ：
上海剑秋知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨飞
优先权 ：
CN202021790863.0
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/28 H01R25/00 H01R13/502
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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