芯片测试插座
授权
摘要

本实用新型公开了芯片测试插座,涉及芯片测试技术领域。本实用新型包括测试座与支撑板,测试座一表面安装有拉杆,拉杆一表面安装有杆把手,另一表面对称安装有若干弹性绳,测试座上下相对两表面对称转动连接有若干转动杆,转动杆周侧面安装有转动轮,弹性绳一表面安装有传动板,测试座内部相对两表面均安装有若干滑杆,传动板一表面安装有支撑杆。本实用新型通过杆把手通过拉杆带动弹性绳向外移动,通过转动轮改变弹性绳的移动方向,通过伸缩弹簧恢复卡板的位置,方便通过卡板将芯片固定在放置槽内,弹性绳带动传动板在滑杆内移动,传动板通过支撑杆带动卡板在放置槽内移动,方便将芯片固定在放置槽内,方便增加芯片的稳定性。

基本信息
专利标题 :
芯片测试插座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122693149.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-05
授权号 :
CN216209334U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
王悦聪徐艺凌
申请人 :
四川和恩泰半导体有限公司
申请人地址 :
四川省遂宁市经济技术开发区西宁片区纵一路恩彼特智能制造产业园5号楼1-5层
代理机构 :
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郭晓露
优先权 :
CN202122693149.0
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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