一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座

授权

摘要

本实用新型公开了一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，包括座体，所述座体下端固定安装有多个固定块，且每个固定块上均设有伸缩槽，每个所述伸缩槽内均滑动连接有伸缩块，且每个伸缩块与对应的伸缩槽之间均安装有弹簧，每个所述伸缩块下端均固定安装有放置板，所述座体内设有容纳槽，且容纳槽内放置有控制板，所述控制板下端均匀设有多个凹槽，且每个凹槽内均滚动安装有滚珠，所述控制板与每个伸缩块之间均安装有调节机构。优点在于：本实用新型测试插座在平整度不一的放置面，可自动进行调节，保持水平状态，从而确保测试结果的准确度，且该操作无需人工操作，使用方便。

基本信息

专利标题：

一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022270722.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-10-13

授权号：

CN213364954U

授权日：

2021-06-04

发明人：

许传庆许元君

申请人：

苏州锜庆精密电子有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市相城区黄埭镇潘阳工业园咏春工业坊2C

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202022270722.2

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R31/28 G01R1/04