激光芯片老化测试系统

授权

摘要

本实用新型提供了一种激光芯片老化测试系统，该系统包括：老化测试模块，安装有多个待测试芯片；光纤传输模块，包括多根光纤，每根光纤对应于一个待测试芯片，每根光纤的第一端设置在相应待测试芯片的出光位置处以收集该待测试芯片发射的激光，第二端将激光输出；收光测试模块，用于采集及测试光纤传输模块输出的激光，以进一步对收光测试模块输出的测量数据进行分析，得到待测试芯片的老化测试数据。这样就可以实现老化测试与光学测试在空间上的解耦，有效地简化了系统设计。

基本信息

专利标题：

激光芯片老化测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021665211.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-12

授权号：

CN212567879U

授权日：

2021-02-19

发明人：

安海岩王威徐豪

申请人：

武汉锐晶激光芯片技术有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市未来科技城A5北C1栋902室

代理机构：

北京众达德权知识产权代理有限公司

代理人：

李娇

优先权：

CN202021665211.4

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02