激光芯片用高效测试系统

授权

摘要

本实用新型公开一种激光芯片用高效测试系统，包括安装在箱体中的芯片夹具、测试板、驱动电路板和电池，芯片夹具包括加热板、芯片载板和芯片电路板，箱体中安装有一端开口的测试盒，箱体上开有与测试盒的开口对应的插口，测试盒另一端开有供测试插头通过的通孔，测试板于插口处插接于测试盒中并形成相对密闭的空间，测试盒上开有一排气口，排气口处盖有一贴附在测试盒外壁上的弹性盖片。本实用新型该老化测试装置不仅利用气管向测试盒中充入所需的惰性气体，保护测试盒中芯片，保证老化测试精度，还能利用排气口将测试盒中的高温气体快速排出，并利用后续输入的气体快速冷却测试板，从而缩短不同批次芯片测试的周期间隔，提供老化测试效率。

基本信息

专利标题：

激光芯片用高效测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921648856.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-30

授权号：

CN211043576U

授权日：

2020-07-17

发明人：

罗跃浩黄建军胡海洋

申请人：

苏州联讯仪器有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司

代理人：

王健

优先权：

CN201921648856.4

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28