一种微型激光芯片老化测试系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种微型激光芯片老化测试系统，涉及微型激光器测试领域，其包括上电模块、温控模块和机架模块，所述上电模块、温控模块均安装于所述机架模块上，所述温控模块包括设置于机架模块上的风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱，老化子箱内设置有微型激光芯片，所述风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱相互电连接；所述温控模块用于控制各个老化子箱的温度；所述上电模块用于为各个老化子箱中的微型激光芯片供电。整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试，且能够在多个通道集中进行老化测试，同时，操作方便、价格低廉。

基本信息

专利标题：

一种微型激光芯片老化测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021232990.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-30

授权号：

CN212433335U

授权日：

2021-01-29

发明人：

林辉

申请人：

武汉普斯讯科技有限公司

申请人地址：

湖北省鄂州市葛店开发区创业大道40号

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

傅海鹏

优先权：

CN202021232990.9

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28